设备分析

设备分析功能,作为电分析模块,可以提取一个晶体管的电特性(通过直流分析的I-V,通过小信号交流分析的C-V),并探索晶体管工艺变化对器件性能的影响,所有这些都直接在SEMulator3D中。

软件评估
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提供过程集成决策如何影响晶体管器件性能的见解

设计者可以生成晶体管IV曲线,并从这些曲线中自动提取器件参数。晶体管性能可以通过图形、光刻、蚀刻、沉积和其他工艺集成效果的变化来测量。该求解器考虑了各种物理现象,如场相关的复合和带间隧穿。确定任何工艺步骤对晶体管行为测量的影响,如器件阈值电压,并对一系列工艺变化的性能进行统计研究。该功能是完全自动化的,并与SEMulator3D集成,并支持所有类型的流程建模。

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